T3ster—功率電子熱測(cè)試設(shè)備

       T3ster 是美國(guó)Mentor Graphics 公司研發(fā)的瞬態(tài)熱測(cè)試儀，基于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的靜態(tài)實(shí)驗(yàn)方法JESD51-1，測(cè)量IGBT、MOS 管、功率二極管、三極管、LED、微機(jī)電系統(tǒng)等半導(dǎo)體電子器件的熱阻、熱容特性，用于新能源汽車(chē)、交通、工業(yè)、電力電子等行業(yè)的功率電子無(wú)損檢測(cè)、功率循環(huán)測(cè)試等。

讓客戶滿意是我們工作的目標(biāo)，不斷超越客戶的期望值來(lái)自于我們對(duì)這個(gè)行業(yè)的熱愛(ài)。我們立志把好的技術(shù)通過(guò)有效、簡(jiǎn)單的方式提供給客戶，將通過(guò)不懈努力成為客戶在信息化領(lǐng)域值得信任、有價(jià)值的長(zhǎng)期合作伙伴，公司提供的服務(wù)項(xiàng)目有：空間域名、網(wǎng)絡(luò)空間、營(yíng)銷(xiāo)軟件、網(wǎng)站建設(shè)、如東網(wǎng)站維護(hù)、網(wǎng)站推廣。

產(chǎn)品介紹

       T3ster 的基本配置包括測(cè)試主機(jī)以及PC 端的測(cè)量控制和結(jié)果分析軟件，T3ster 擴(kuò)展應(yīng)用配置包括TeraLED、DynTIM和Power Tester 1500A。

T3ster

?   實(shí)現(xiàn)芯片結(jié)溫、結(jié)殼熱阻、內(nèi)部各層熱容-熱阻等熱特性的快速無(wú)損測(cè)量，可用于電子元器件的校準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)接觸熱阻測(cè)量

?   可用于芯片缺陷檢測(cè)或故障分析以及PCB焊點(diǎn)的可靠性測(cè)試

?   可為FloTHERM提供詳細(xì)的熱特性數(shù)據(jù)，幫助快速建立和修正仿真模型

?   高達(dá)1μs系統(tǒng)瞬態(tài)測(cè)試間隔下，擁有市場(chǎng)更高靈敏度（其溫度分辨率達(dá)0.01 攝氏度）

TeraLED

?   擁有高精度的輻射和光學(xué)測(cè)量?jī)x，能對(duì)LED熱特性包括溫度、壽命和可靠性等進(jìn)行全面準(zhǔn)確的測(cè)量

?   其自帶軟件能自動(dòng)分析光通量、光效率、效能以及色差坐標(biāo)，數(shù)據(jù)可直接導(dǎo)入Flotherm/FloEFD 進(jìn)行后續(xù)LED 燈總成的熱分析

DynTIM

?   熱界面材料(TIM)熱特性測(cè)試的行業(yè)先進(jìn)設(shè)備，與T3Ster配合，測(cè)試材料分辨率可達(dá)1μm

?   提供業(yè)界先進(jìn)的TIM測(cè)試方案，其相對(duì)精度高達(dá)±5%

?   可實(shí)現(xiàn)多種可壓縮材料如導(dǎo)熱硅膠、散熱墊、各種相變材料以及其他粘合劑和固體試樣等的熱測(cè)試

Power Tester 1500A

?   廣泛應(yīng)用于汽車(chē)、鐵道等 IGBT 熱特性的無(wú)損檢測(cè)，以及IGBT 的加速疲勞特性測(cè)試

?   集功率循環(huán)、熱瞬態(tài)測(cè)試、熱結(jié)構(gòu)函數(shù)分析于一身

?   內(nèi)置多種功率加載模式，如恒定功率、恒定溫升、恒定電流

?   實(shí)時(shí)故障原因診斷，如芯片鍵合線斷開(kāi)、芯片及封裝內(nèi)材料分層與破損、焊膏老化等

?   全周期連續(xù)監(jiān)控，可監(jiān)控從起始到失效的全過(guò)程

?   使用靈活，單通道最大500A，三個(gè)通道可獨(dú)立使用也可聯(lián)立使用

分享標(biāo)題：T3ster—功率電子熱測(cè)試設(shè)備
地址分享：http://bm7419.com/article30/psdopo.html

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